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徕卡金相显微镜
- 更新时间：2020-11-03
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Leica DM ILM倒置显微镜为在金属和工业材料检验的所有检查和测量任务特币设计的.Leica HCS光学系统保证了图像分辨率和反差的优化,得到锐利图像的同时追求高分辨率.而且所有的检查和测量任务可以执行的迅速和.
技术参数:
| 学系统 | HSC远校正，明场，偏光 |
| 放大倍数 | 50×～1000× |
| 调焦机构 | 物镜转盘上下移动方式，载物台固定粗微调同轴：向上7mm，向下2mm |
| 物镜转盘 | 4孔转盘 |
| 载物台 | 横方向247mm×纵方向230mm横纵移动手柄同轴，右侧（可要求换为左侧） |
| 照明系统 | 插入式滤色片组偏振光组：插入式起偏器及检偏器6V35W卤素灯 |
| 镜筒 | 双目镜筒，侧面照相100%光线输出镜筒倾斜角30o，眼幅调整范围48～75mm10×宽视野目镜 |
| 组合物镜 | 5×，10×，20×，50×，100×（干） |
| 照相装置 | 1×数码照相接口 |
| 外型尺寸 | 236（W）×624（D）×407（H）mm |
| 重量 | 约10Kg |
物镜:1.25X-250X
目镜:10X,12.5X,16X,25X(视野18mm,20mm)
观察方式:明场 偏光
物镜转盘:4X M25 明场镜头
载物台:247X230mm尺寸,行程60x40,可配多种载物孔径板
摄像方式:可通过C接口进行拍摄,并通过专业软件进行分析测量等工作
内置6V 35W,外置12V 100W照明
主要特点:
光学设计上采用先进的HC远轴向、径向双重色差校正光学技术，杂散光等干扰因素；
在整个光学系统内, 对涉及成像质量的所有组件(物镜、镜筒透镜、目镜筒、目镜、照相接口等) 进行优化组合，实现图像分辨率和反差的优化，得到锐利图像的同时追求高分辨率。
可配多种观察筒,适应不同的要求与检测观察方式,操作简单,检测快捷
可选配徕卡各种图像处理及分析软件，包括景深扩展软件，通用图像分析软件，金相分析软件
